3280 Test-In-Tray測試分類機

主要特色：

• 整合SD卡測試機與自動分類機功能
• 平行測試120個micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數(shù)量測功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類結(jié)果資訊
• 小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設(shè)備
• 3rd Party測試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測試介面
• SD卡資料寫入模組

Chroma 3280採用創(chuàng)新的技術(shù)整合SD卡測試機與 自動分類機的功能，並利用Test-In-Tray的技術(shù)來 達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數(shù)測 試的功能，3280為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來了一 個創(chuàng)新的測試方法，而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機 臺的設(shè)計更可節(jié)省機臺於測試廠之佔地面積。

對於低價的消費性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距，製造商也會極為敏感。而這樣 的特性往往是此類消費性產(chǎn)品在成品測試中之一 大挑戰(zhàn)。對於SD卡類產(chǎn)品而言，為了能夠降低 生產(chǎn)的成本，SD卡類製造商了解在SD卡的製程 中必須採用Known Good Die(KGD)來進行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因為採用KGD生產(chǎn)的SD卡類 產(chǎn)品，將可減少在成品測試中對於測試項目的要 求，只需針對成品封裝過程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進行檢測，而不需要再對整個晶片進行完整的測 試。

Chroma 3280整合了測試機臺與自動分類機的功 能，並採用創(chuàng)新的設(shè)計，滿足採用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求，不論是在機臺的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測試機臺來的大幅降低，因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測物置於IC托盤中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法，可以大幅 節(jié)省傳統(tǒng)的測試方法因自動分類機在進行測試 時，必須以機器手臂夾取每個待測元件所需花取 的索引時間。因此，提供了一個zui有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對於120個SD卡進行測 試時所需花費的索引時間大約只有10秒鐘。

高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個專屬 的SD卡測試機巢 (Test Hive)，此一測試機巢提供 了能夠同時測試120個micro SD卡的測試能力。